日本電子株式会社の評価
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企業について
電子顕微鏡を中心に、物質をナノメートル単位で観察・分析する理科学計測機器をつくるメーカー。1949年に東京都三鷹市で「株式会社日本電子光学研究所」として設立され、同年に電子顕微鏡JEM-1を完成させたのが始まりで、1961年に現在の社名へ変更した。透過電子顕微鏡や核磁気共鳴装置は、大学や公的研究機関、製薬・材料・電機メーカーの研究現場に置かれ、新しい薬の候補物質や電池材料の構造を確かめる場面で使われている。同じ電子ビームの技術は半導体にも延びていて、回路の原版となるフォトマスクを描く電子ビーム描画装置も手がける。本社と昭島製作所は東京都昭島市にあり、ほかに武蔵村山製作所を持つ。米国・フランス・英国・ドイツ・オランダ・イタリア・韓国・台湾・シンガポール・オーストラリアなどに販売とサービスの現地法人を置いている。単体では約2,300人だが、グループ全体では約3,700人が働き、売上高は連結で1,793億円（2026年3月期）。2026年4月に医用機器事業をシスメックスへ譲渡し、理科学・計測機器事業と半導体・産業機器事業の2つに事業を絞った。
事業内容
理科学・計測機器事業
透過電子顕微鏡、走査電子顕微鏡、電子プローブマイクロアナライザ、光電子分光装置、集束イオンビーム加工観察装置などの電子光学機器
核磁気共鳴装置、電子スピン共鳴装置、質量分析計（MALDI飛行時間型・ガスクロマトグラフ型・液体クロマトグラフ型）、ポータブルガスクロマトグラフなどの分析機器
半導体・産業機器事業
電子ビーム描画装置（可変成形ビーム型、スポットビーム型）
電子ビーム蒸着用電子銃・電源、プラズマ発生用高周波電源、高周波誘導熱プラズマ装置、電子ビーム金属3Dプリンター
これらに附帯する製品・部品の加工委託、保守・サービス、周辺機器の仕入・販売
基本情報
- 設立
- 1949年5月
- 代表者
- 代表取締役社長兼CEO 大井泉
- 資本金
- 213.9億円
- 売上高
- 1,793.5億円
- 従業員数
- 約2,313人
- 平均年収
- 857.5万円
- 平均年齢
- 44.6歳
- 平均勤続年数
- 15.9年
- 上場
- 東証プライム（証券コード 6951） 1962年上場
- 決算月
- 3月
- 事業形態
- 法人向け（BtoB）
- 所在地
- 東京都昭島市武蔵野３丁目１番２号
- 電話番号
- 042-543-1111
- 公式サイト
- https://www.jeol.co.jp/
- 採用情報
- 採用ページを見る
- お問い合わせ
- 問い合わせフォームを開く
職場データ
- 平均勤続年数
- 正社員 15.9年（男性 17.3年）
- 女性労働者の割合
- 27.4%（正社員）
出典：職場情報総合サイト（厚生労働省）。企業が公表した時点の数値で、 集計の範囲（正社員のみか、パートを含むか）は企業によって異なります。
沿革
- 1949年5月
- 東京都三鷹市に株式会社日本電子光学研究所を設立し、電子顕微鏡JEM-1を完成
- 1952年11月
- 高周波焼入装置を完成し産業機器分野に進出
- 1956年8月
- 国産初の核磁気共鳴装置JNM-1を完成し分析機器分野に進出
- 1961年5月
- 日本電子株式会社に商号変更
- 1962年4月
- 東京証券取引所市場第二部に上場
- 1962年12月
- 米国に初の海外現地法人JEOLCO(U.S.A.)INC.を設立
- 1966年6月
- 本店を三鷹市から昭島市へ移転、同年8月に東京証券取引所市場第一部へ上場
- 1972年4月
- 生化学自動分析装置を完成し医用機器分野に進出
- 1976年
- 電子顕微鏡で世界初の原子配列写真の撮影に成功
- 2011年4月
- 分社型の新設分割により株式会社JEOL RESONANCEを設立（2022年10月に吸収合併）
- 2020年1月
- 米国のIntegrated Dynamic Electron Solutions,Inc.の全株式を取得
- 2021年10月
- 武蔵村山製作所を開所
- 2025年1月
- ジャパンスーパーコンダクタテクノロジー株式会社の全株式を取得
- 2026年4月
- 医用機器事業を会社分割によりシスメックス株式会社へ譲渡
取得している認定
- くるみん 子育てサポート企業として厚生労働大臣の認定
- えるぼし 女性の活躍推進で厚生労働大臣の認定
公式SNS
公的な記録
表彰 3件
- えるぼし－認定
- 次世代育成支援対策推進法に基づく「くるみん」認定
- 次世代育成支援対策推進法に基づく「プラチナくるみん」特例認定
届出・認定 4件
- 競争参加資格
- 競争参加資格
- 競争参加資格
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物品の製造：A
物品の販売：A
役務の提供等：A
物品の買受け：A
官公庁からの受注 28件
- 令和８年度走査型電子顕微鏡保守業務
- 令和７年度走査型電子顕微鏡保守業務
- 医療機器に係る年間保守業務（区分３）
- 経済安全保障重要技術育成プログラム／高度な金属積層造形システム技術の開発・実証全面統合型次世代金属積層造形技術の開発
- 令和６年度卓上走査型電子顕微鏡の購入
- 令和６年度走査電子顕微鏡制御用システムアップグレード業務【再度公告】
- 令和６年度走査電子顕微鏡付属エネルギー分散型Ｘ 線分析検出器制御用システムのアップグレード業務【再度公告】
- 令和６年度ガスクロマトグラフ質量分析計の更新
- 令和６年度走査型電子顕微鏡等保守業務
- 令和５年度走査型電子顕微鏡等保守業務
- 令和４年度走査型電子顕微鏡保守業務
- 走査電子顕微鏡一式買入
- 磁化特性測定装置修理
- 令和３年度走査型電子顕微鏡保守業務
- 医療機器に係る年間保守業務（区分１）
- 磁化特性測定装置修理
- 平成３１年度走査型電子顕微鏡保守業務
- 医療機器に係る年間保守業務（区分１）
- 医療機器に係る年間保守業務（区分２）
- 省エネ製品開発の加速化に向けた複合計測分析システム研究開発事業省エネ製品開発の加速化に向けた複合計測分析システム研究開発事業
- ほか8件
特許・意匠・商標 265件
- 荷電粒子線装置および荷電粒子線装置の制御方法
- 荷電粒子線装置
- 収差補正装置および電子顕微鏡
- ＥＧ－ｇｒｉｄ
- 相分析装置、試料分析装置、および分析方法
- 収差補正装置および電子顕微鏡
- 試料カートリッジ保持装置
- 集束イオンビーム装置及びイオンビームの視野ズレ補正方法
- 試料カートリッジ搬送システム
- 試料加工装置および試料加工方法
- §ＪＥＯＬ
- §ＪＥＯＬ
- ＮＭＲ用角度調整装置
- 高電圧増幅回路、及び分析装置
- 相分析装置、試料分析装置、および分析方法
- 相分析装置、試料分析装置、および分析方法
- ＮＭＲ測定装置
- 質量分析装置及び方法
- 電子顕微鏡および画像取得方法
- Ｘ線検出装置及び方法
- ほか245件
この情報について
内容が最新でない場合や、文章作成の過程で不正確な場合がありますので、公式の資料でご確認ください。 企業のご担当者様は、会員登録のうえ内容を編集していただけます。
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出典：「Gビズインフォ」（経済産業省）
https://info.gbiz.go.jp/hojin/ichiran?hojinBango=9012801002438（2026年8月22日に利用）
同サイトの情報をもとに dive-for.com が作成しました。
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