株式会社アドバンテストの評価
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職場環境：
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入社理由と
入社後の
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会社の将来性：
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スキルアップ：
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多様性への配慮：
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退職理由：
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福利厚生・制度：
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経営者の提言：
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年収・給与：
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面接・選考：
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やりがい：
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企業について
半導体が設計どおりに動くかを、出荷前に検査する装置をつくるメーカー。半導体はウェハーから切り出した段階では良品か不良品かが分からず、電気信号を入れて応答を測る「テスト」の工程を必ず通る。スマートフォンやデータセンターに載るチップも、この工程を経てから出荷される。1954年に電子計測器の専門メーカーであるタケダ理研工業として愛知県豊橋市で設立され、1976年に富士通の資本参加を受け、1985年に現社名へ変更した。2011年には米国のVerigy Ltd.を買収して完全子会社化している。製品はSoC向け・メモリ向けのテストシステムを軸に、チップを装置に着脱するテストハンドラ、チップと装置をつなぐデバイスインタフェースまでを一体で揃える。2026年3月期の連結売上高は1兆1,286億円。従業員は単体で2,033人、連結では7,241人で、うち5,032人が海外の拠点に所属する。国内は群馬・埼玉・福岡にR&D拠点を置き、米国・ドイツ・台湾・シンガポール・韓国・中国に開発や販売、保守を担う子会社を持つ。
事業内容
SoC半導体デバイス向けSoCテストシステムの開発・製造・販売
メモリ半導体デバイス向けメモリテストシステムの開発・製造・販売
半導体デバイスを搬送・着脱するテストハンドラの製造・販売
被測定物と装置をつなぐデバイスインタフェースの製造・販売
半導体やモジュールのシステムレベルテストのソリューション提供
ナノテクノロジー関連製品の製造・販売
測定装置の保守・サポートサービス、消耗品販売
自社製中古装置の買取・仕様変更・再販
基本情報
- 設立
- 1954年12月
- 代表者
- 代表取締役兼経営執行役員 Group CEO ダグラス ラフィーバ
- 資本金
- 323.6億円
- 売上高
- 1.1兆円
- 従業員数
- 約2,033人
- 平均年収
- 1,097.7万円
- 平均年齢
- 45.7歳
- 平均勤続年数
- 20.2年
- 上場
- 東証プライム（証券コード 6857） 1983年上場
- 決算月
- 3月
- 事業形態
- 法人向け（BtoB）
- 所在地
- 東京都千代田区丸の内１丁目６番２号
- 公式サイト
- https://www.advantest.com/ja/
- 採用情報
- 採用ページを見る
- お問い合わせ
- 問い合わせフォームを開く
職場データ
- 平均勤続年数
- 正社員 20.2年（男性 20.7年 / 女性 17.4年）
- 女性労働者の割合
- 25.6%（正社員）
出典：職場情報総合サイト（厚生労働省）。企業が公表した時点の数値で、 集計の範囲（正社員のみか、パートを含むか）は企業によって異なります。
沿革
- 1954年12月
- 電子計測器の専門メーカーとして愛知県豊橋市にタケダ理研工業株式会社を設立
- 1959年4月
- 本部機構と工場を東京都練馬区に新築移転
- 1976年2月
- 富士通株式会社が資本参加
- 1982年6月
- 米国に子会社Advantest America, Inc.を設立
- 1983年2月
- 東京証券取引所市場第二部に株式上場
- 1983年6月
- ドイツに子会社Advantest Europe GmbHを設立
- 1984年5月
- 群馬県邑楽郡邑楽町に群馬工場を開設
- 1985年9月
- 東京証券取引所市場第一部に株式上場
- 1985年10月
- 株式会社アドバンテストに社名変更
- 1986年10月
- シンガポールに子会社Advantest (Singapore) Pte. Ltd.を設立
- 2001年9月
- ニューヨーク証券取引所に上場（2016年4月に上場廃止）
- 2004年9月
- 本社事務所を東京都千代田区の新丸の内センタービルディングに移転
- 2011年7月
- Verigy Ltd.の普通株式全株を取得し完全子会社化
- 2022年4月
- 東京証券取引所プライム市場へ移行
取得している認定
- くるみん 子育てサポート企業として厚生労働大臣の認定
- えるぼし 女性の活躍推進で厚生労働大臣の認定
公式SNS
公的な記録
表彰 4件
- 環境人づくり企業大賞２０１８
- えるぼし－認定
- 次世代育成支援対策推進法に基づく「くるみん」認定
- 次世代育成支援対策推進法に基づく「プラチナくるみん」特例認定
届出・認定 1件
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物品の製造：A
物品の販売：A
役務の提供等：A
特許・意匠・商標 171件
- §ＡＰＴ‐Ｇａｔｅ
- §ＡＰＴ‐Ｐｏｒｅ
- 電磁石、及び磁場印加システム
- 血中蛍光スペクトル表示用画像
- 電子部品試験装置用キャリア
- 試験方法、製造方法、パネルレベルパッケージおよび試験装置
- 試験方法および製造方法
- 試験用キャリア
- 自動試験装置（ＡＴＥ）を制御するための制御装置、ＡＴＥ、ＡＴＥを制御するための方法、ＡＴＥを操作するための方法、および温度の推定または判定を含むそのような方法を実行するためのコンピュータプログラム
- 試験装置、試験方法およびプログラム
- 試験用キャリア、及び、電子部品試験装置
- 柔軟な試験システムおよび方法
- 電子部品試験装置用キャリア
- 電子部品試験装置用キャリア
- 複数の自動試験装置チャネルを較正するための回路および方法
- 拡張補助インタフェーステストシステムおよび方法
- §ＶＧＥＭ
- 試験装置、試験方法およびプログラム
- 試験装置、試験方法およびプログラム
- 試験装置、試験方法およびプログラム
- ほか151件
この情報について
内容が最新でない場合や、文章作成の過程で不正確な場合がありますので、公式の資料でご確認ください。 企業のご担当者様は、会員登録のうえ内容を編集していただけます。
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出典：「Gビズインフォ」（経済産業省）
https://info.gbiz.go.jp/hojin/ichiran?hojinBango=9011601000379（2026年8月22日に利用）
同サイトの情報をもとに dive-for.com が作成しました。
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